01 应对行业痛点
随着电子设备趋向轻薄化，引线密度不断增加，对测量精度的要求也日益提高。在精密制造行业中，高度测量一直是个难题。进行目视测量时，不同操作员会得到不同的测量值，而且这种方法效率较低。
特别是在测量引线弧高、表面粗糙度及台阶高度等参数时，传统方法难以保证结果的准确性和重复性。
02 自动聚焦解决方案
奥林巴斯STM7测量显微镜配备了专用的自动聚焦单元，采用主动反射、共聚焦方法。
该系统能实现快速聚焦，并保障了较高的对焦重复性。无论操作者的经验如何，均可以在较短的时间内实现高度的高度测量。
其自动对焦的光斑直径较小，约为1.0 μm，因此可以在键合的引线上聚焦。
03 实际应用场景
在引线键合过程中，STM7的跟踪自动对焦功能展现出显著优势。
该功能使检测人员在移动双轴载物台的过程中，能够测量引线弧的更高点。对于粗糙或倾斜的样品表面，利用主动反射、共聚焦方法都可以实现稳定对焦。
04 技术优势
STM7的自动聚焦系统提供两种对焦模式：单次对焦模式和跟踪模式。
单次对焦模式执行自动聚焦后，可瞬间完成从大致的聚焦状态转为视场中心的清晰对焦。
启用跟踪模式后，系统会随样品表面的高低起伏自动对焦，即使在移动工作台的情况下，也可以始终保持合焦状态。
这使操作者在手不需要离开X和Y手柄的情况下也能实施观察，从而提高了Z轴的测量效率。
05 测量效率提升
自动聚焦技术的应用，减少了操作员的主观性对测量结果造成的影响。
使用STM7的聚焦导航系统，只需匹配标记便可进行测量，因此降低了不同操作员之间的测量差异。
对于需要进行大量重复测量的质量控制场景，这种一致性和重复性尤为重要。
从半导体芯片到精密模具，越来越多的行业正借助这项技术，将微米级的精度控制变为常态。
