您好!欢迎您访问"苏州工业园区汇光科技有限公司"企业网站!

咨询热线
HOTLINE

18962209715
0512-67625945

行业动态

红外显微镜观察硅芯片

分类:行业动态 发布时间:2024-11-15 625次浏览

红外显微镜利用红外光作为像的形成者,其波长范围通常在 800nm 到 20μm 之间 。对于硅芯片而言,红外光能够在一定程度上穿透硅材料,从而可以对芯片内部的结构和信息进行观察。

那么,使用红外显微镜观察硅芯片都有哪些优势呢?

无损检测:

硅芯片是一种高精度、高集成度的微电子器件,常规的检测方法可能会对其造成损坏或影响其性能。而红外显微镜可以在不破坏芯片结构和性能的前提下,对芯片内部进行观察和分析,这对于芯片的质量控制、失效分析以及研发等环节都具有重要意义。

2红外显微镜-失效分析.jpg

穿透能力强:

红外光能够穿透一定厚度的硅材料,从而可以观察到芯片内部的电路结构、杂质分布、缺陷等信息,有助于检测芯片中的隐藏缺陷和问题,如短路、开路、金属化层缺陷等。

红外显微镜.jpg

高分辨率成像:

汇光科技的红外显微镜配备了高分辨率的成像系统、高灵敏度的探测器以及高质量的光学部件,能够提供亚微米级甚至更高分辨率的图像,从而可以清晰地观察到芯片内部的微小结构和细节特征。

红外显微镜.jpg

可观察多层结构:

对于多层结构的硅芯片,红外显微镜可以通过调整成像参数和分析方法,分别对不同层的结构和信息进行观察和分析,有助于了解芯片的整体结构和性能。


版权所有:苏州工业园区汇光科技有限公司 苏ICP备18008002备 技术支持:苏州荣邦
苏州工业园区汇光科技有限公司主营显微镜半导体显微镜金相显微镜测量显微镜工业显微镜xml地图 htm地图 txt地图
×