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行业动态

半导体显微镜应用之晶圆表面检测

分类:行业动态 发布时间:2024-11-01 636次浏览

半导体显微镜不仅是一款功能强大的检测工具更是能够让观察者没有门槛地随心探索晶圆的微观世界。

当提及半导体晶圆检测,你的脑海里是不是出现一副复杂又专业的画面。

但是,随着半导体显微镜的出现,彻底打破了这一刻板印象,它不仅是一款功能强大的检测工具,更是能够让观察者没有门槛地随心探索晶圆的微观世界。

半导体显微镜.jpg

在晶圆的生产过程中,半导体显微镜可用于检测晶圆表面的缺陷、颗粒污染、划痕等问题。例如,通过高分辨率的成像,可以清晰地观察到晶圆表面微小的瑕疵,帮助提升晶圆的质量和成品率。

在芯片制造过程中,会使用半导体显微镜对晶圆进行检测。比如在光刻环节后,利用半导体显微镜检查晶圆上的图案是否符合设计要求,包括线条的宽度、间距以及图案的完整性等,确保芯片的功能和性能。

汇光科技现货供应多款半导体显微镜,涵盖明暗场、偏光、相衬、微分干涉、荧光、红外等观察方式,光学放大倍率从20倍至2000倍多种选择,可满足不同检测要求,如果您有选购需求,欢迎跟我们联络~

半导体显微镜.jpg

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