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行业动态

金相显微镜应用之半导体芯片检测

分类:行业动态 发布时间:2024-06-13 391次浏览

金相显微镜放大倍数高,因此能满足多种产品检测,之前小编给大家展示了多种金相显微镜应用案例,今天给大家展示金相显微镜应用之半导体芯片检测。

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前几天,我们收到客户寄来的芯片(如上图),单颗芯片有针头大小,客户需要表面观察,为了能满足客户检测需求,我们选用金相显微镜,给大家展示几张汇光科技工程师拍照效果图。

半导体芯片

在不同的放大倍数下,半导体芯片表面观察的细节稍微有所不同,另外我们也为客户展示了金相显微镜在暗场下的成像效果图,如下图。

半导体芯片

总的来说,用金相显微镜观察半导体芯片,足够的放大倍数,成像效果更清晰,除此以外,如需平面测量,只要打开软件即可操作,如果您近期正在找一款金相显微镜,汇光科技欢迎大家寄样测试或直接来我们公司试样哦,服务电话:0512-67625945.

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