您好!欢迎您访问"苏州工业园区汇光科技有限公司"企业网站!

咨询热线
HOTLINE

18962209715
0512-67625945

行业动态

近红外显微镜应用之半导体芯片检测

分类:行业动态 发布时间:2023-12-19 1907次浏览

今年,汇光科技遇到许多在半导体芯片检测上需要用到近红外显微镜的,感兴趣的朋友一起来看看吧


近红外显微镜

近红外显微镜采用红外光源(波长在800nm到20μm)观察产品,但是近红外显微镜并非所有材质都可以穿透观察,今天小编和大家展示近红外显微镜在半导体芯片检测中的应用案例。

1、半导体芯片内部电路检测。看芯片内部线路是否有短路,断路,键合情况,是否有脏污等。

半导体芯片内部检测

2、芯片mark标记检测。

芯片mark标记检测

其他半导体芯片检测图

半导体芯片检测

由上可以看出,近红外显微镜外观看起来和普通的金相显微镜一样,但是他像“透视眼”的功能普通金相显微镜则没有,感兴趣的朋友可以先寄样品来测试。

版权所有:苏州工业园区汇光科技有限公司 苏ICP备18008002备 技术支持:苏州荣邦
苏州工业园区汇光科技有限公司主营显微镜半导体显微镜金相显微镜测量显微镜工业显微镜xml地图 htm地图 txt地图
×