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行业动态

近红外显微镜应用之半导体芯片检测

分类:行业动态 发布时间:2023-12-19 2898次浏览

今年,汇光科技遇到许多在半导体芯片检测上需要用到近红外显微镜的,感兴趣的朋友一起来看看吧


近红外显微镜

近红外显微镜采用红外光源(波长在800nm到20μm)观察产品,但是近红外显微镜并非所有材质都可以穿透观察,今天小编和大家展示近红外显微镜在半导体芯片检测中的应用案例。

1、半导体芯片内部电路检测。看芯片内部线路是否有短路,断路,键合情况,是否有脏污等。

半导体芯片内部检测

2、芯片mark标记检测。

芯片mark标记检测

其他半导体芯片检测图

半导体芯片检测

由上可以看出,近红外显微镜外观看起来和普通的金相显微镜一样,但是他像“透视眼”的功能普通金相显微镜则没有,感兴趣的朋友可以先寄样品来测试。

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