您好!欢迎您访问"苏州工业园区汇光科技有限公司"企业网站!

咨询热线
HOTLINE

18962209715
0512-67625945

行业动态

半导体显微镜应用

分类:行业动态 发布时间:2023-08-21 2799次浏览

随着半导体飞速发展,半导体显微镜应用也比较多,汇光科技小编整理了一些我司近期给客户做的相关案例,希望大家早日选购到合适的半导体显微镜

在半导体制造过程中,如IC芯片缺陷检测,光罩检测,硅片检查,引线高度测试,芯片表面分析,晶圆切割检查等都会用到半导体显微镜,具体选择哪种半导体显微镜好?还是根据您产品检测需求来选择,小编给大家展示一些近期汇光科技为客户测试的样品效果图,详情如下:

半导体芯片切片分析,用CX40M金相显微镜

半导体芯片切片分析

检测芯片切割后是否有隐裂,我们选用金相显微镜,效果图如下

芯片切割后观察是否有裂痕

检测芯片引线键合情况,我们选用3D超景深显微镜,检测效果如下:

引线键合检查

光罩表面检测,由于设备比较大,观测细节比较小,我们推荐工具测量显微镜,效果图如下

光罩表面分析

硅片mark标记,用红外显微镜拍摄

硅片mark标记

芯片内部隐裂检测,用红外显微镜拍摄

芯片内部隐裂检测

IC芯片缺陷检测,用研级金相显微镜检测

芯片表面分析

以上是半导体显微镜应用简单展示,由于本栏目展示有限,还有更多半导体应用无法展示给大家,感兴趣的朋友可来汇光科技(直接将产品邮寄过来)测试,期待您的光临。

版权所有:苏州工业园区汇光科技有限公司 苏ICP备18008002备 技术支持:苏州荣邦
苏州工业园区汇光科技有限公司主营显微镜半导体显微镜金相显微镜测量显微镜工业显微镜xml地图 htm地图 txt地图
×