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常州3D超景深数码显微镜:为半导体探针卡的精密检测提供高效解决方案

分类:公司新闻 发布时间:2025-12-23 697次浏览

现在的探针卡结构越来越复杂,看看3D超景深显微镜如何应对。

半导体探针卡

一颗芯片从沙子变为成品,怕的不是设计不出来,而是造出来却无法检测。

在半导体产业链里,有一个极其关键的“安检员”,它要在一根头发丝粗细的范围内,精准扎下几万根针,去测试芯片的性能,这个东西就叫做探针卡。

随着IC的进化迭代,现在的探针卡针数越来越多,结构越来越复杂。

今天,苏州汇光科技的试样间里,又来了一位检测半导体探针卡的客户,我们一起来看下吧!

专业APO系列物镜

这款3D超景深数码显微镜采用专用APO系列物镜,可实现从20倍至7500倍的快速倍率切换,用户仅需一键操作,高效满足多样化的观测需求。

3D形貌图

3D超景深数码显微镜的3D形貌图

3D超景深数码显微镜出色的图像处理,反复移动平台拍摄,同步拼接获取3D数据掌握整体形状。

3D测量

3D超景深数码显微镜的3D测量功能

这款3D超景深数码显微镜革新了测量体验,支持跨视野测量、智能平面测量、2D/3D测量、轮廓测量等。

除了探针卡,这款3D超景深数码显微镜还支持多种样品观测,在半导体行业、电子行业、锂电行业、汽车行业、材料行业、精密加工等领域,都有着广泛的应用。

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